0.0001mm薄膜測(cè)厚儀 厚度測(cè)量?jī)x價(jià)格

0.0001mm薄膜測(cè)厚儀（也稱為0.1um（微米）精度薄膜測(cè)厚儀）采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。

0.0001mm薄膜測(cè)厚儀主要參數(shù)：

儀器型號(hào)：CHY-U
生產(chǎn)單位：濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司
測(cè)量范圍:0-2mm （其他量程可定制）
分辨率 :0.1um
測(cè)量速度:10 次/分（可調(diào)）
測(cè)量壓力:17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）
接觸面積:50mm2（薄膜），200mm2（紙張）    注：薄膜、紙張任選一種
進(jìn)樣步矩:0 ～ 1300 mm(可調(diào))
進(jìn)樣速度 :0 ～ 120 mm/s(可調(diào))
外形尺寸:450mm×340mm×390mm
重量:23kg
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)

應(yīng)用范圍：
（1）用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質(zhì)材料厚度精確測(cè)量。
（2）對(duì)金屬箔片等硬質(zhì)材料厚度精確測(cè)量。
（3）接觸式測(cè)試原理更有效的檢測(cè)出太陽能硅片上每個(gè)點(diǎn)的厚度值
（4）通過調(diào)節(jié)測(cè)量頭可完整紙張規(guī)定的壓力和面積，完整各種紙張、紙板材料厚度測(cè)試。

我們將以優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和優(yōu)秀的服務(wù)，為客戶提供好的0.0001mm薄膜測(cè)厚儀 厚度測(cè)量?jī)x價(jià)格信息。