食品用鋁箔紙鍍鋁層厚度/均勻度測(cè)試儀 DMT-E

由于真空鍍鋁薄膜上的鍍鋁層非常薄，因此不能用常規(guī)的測(cè)厚儀器檢測(cè)其厚度。由國(guó)家包裝產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心(濟(jì)南)起草的《 GB/T 15717-1995真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法--電阻法》于1996年頒布，詳細(xì)介紹了如何檢測(cè)絕緣軟基材表面的真空金屬鍍層厚度的測(cè)試方法。電阻法檢測(cè)鍍鋁層的厚度用表面電阻來表示，單位是Ω/□，數(shù)值越大說明鍍鋁層厚度越薄，一般真空鍍鋁薄膜的表面電阻值為1.0－2.5Ω/□。

食品用鋁箔紙鍍鋁層厚度/均勻度測(cè)試儀 測(cè)試原理：
鋁是導(dǎo)電金屬，通過測(cè)試規(guī)定面積內(nèi)試樣的電阻值，和一定溫度下的鋁的導(dǎo)電率，計(jì)算出試樣的鍍鋁層厚度。

 儀器試驗(yàn)步驟
1.將金屬鍍層測(cè)量?jī)x與試樣放置在GB2918規(guī)定的23±2℃.，45%-55%RH環(huán)境中放置4h后測(cè)量。
2.每次測(cè)量前用無水乙醇擦拭儀器的測(cè)量頭。
3.將試樣平放在測(cè)量?jī)x的橡膠板上，使測(cè)量頭與金屬鍍層接觸良好。
4.每次測(cè)量前儀器必須校零。
5.測(cè)量試樣的電阻值。
測(cè)試的實(shí)驗(yàn)結(jié)果自動(dòng)顯示打印金屬鍍層的方塊電阻、金屬鍍層厚度和均勻度。

檢測(cè)產(chǎn)品

主要參數(shù)
厚度測(cè)量范圍：厚度50-570?   
方塊電阻測(cè)量范圍：0.5-10Ω
方塊電阻測(cè)量誤差：±1%
樣品尺寸：100×100mm
夾樣誤差：±0.1mm
測(cè)溫范圍：0～50℃，精度±1℃
外形尺寸：370mm×330mm×450mm （長(zhǎng)寬高）
重量：19kg

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