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電子元器件密封測試儀【電子元器件檢漏儀】
簡要描述：電子元器件密封測試儀主要用于檢測電子元器件或其他元器件密封性能測試。
產(chǎn)品型號：
所屬分類：密封性測試儀
更新時(shí)間：2024-05-26
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
詳情介紹
電子元器件密封測試儀 MFY-05
電子元器件密封測試儀 符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 15171
電子元器件密封測試儀 技術(shù)特征：
1. 微電腦控制、PVC操作面板
2. 數(shù)字預(yù)置試驗(yàn)真空度及真空保持時(shí)間
3. 專業(yè)氣動(dòng)元件
4. 自動(dòng)恒壓補(bǔ)氣
5. 自動(dòng)結(jié)束試驗(yàn)
6. 自動(dòng)反吹卸載
電子元器件密封測試儀 技術(shù)參數(shù)：
1. 真空度：0~-90KPA
2. 真空誤差：1級
3. 真空保持時(shí)間： 0.1-60min
4. 進(jìn)氣壓力：0.25—0.6 Mpa （2.5-6 kgf/cm2）
5. 真空室尺寸：Ф300×320mm（標(biāo)配）【其他尺寸可選購】
6. 真空室壁厚：15mm
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